BKTEM-D3A型高溫材料熱電性能測試儀就是一(yi)款(kuan)集(ji)成系統度不高的(de),app談(tan)談(tan)熱(re)(re)電(dian)用料熱(re)(re)電(dian)特征技術指標賽貝克指數(shu)公式和水(shui)的(de)電(dian)導率開展測量方法。
通常應運這個領域:
1、半導體器件的行(xing)業
2、再生資源和的(de)環(huan)境(jing)工業
3、熱電側量
4、空調制熱業
5、本科大學研究探討(tao)與教程(cheng)
6、文件:半導體材料、塑料與各種(zhong)合(he)金(jin)
7、化學(xue)(xue)工業各個領域:小車/國(guo)際航空/航天工程(cheng),開發(fa)科研(yan)和(he)學(xue)(xue)術性科研(yan),半(ban)導體材料互(hu)聯網行業/調節器器/熱電帶發(fa)動機馬達/冷暖(nuan)空調生產(chan)設(she)備(bei)
核心熱電用料采集體系:
Bi2Te3/Sb2Te3系統
PbTe安全體系
SiGe標準
CoSb3為代(dai)表性的方鉆(zhan)礦型(xing)熱(re)電食材
Zn4Sb3
技能特殊性:
·可以控制(zhi)溫賽場下可同(tong)時(shi)進行預(yu)估賽貝克標準值和電阻功率率
·條件運行環境進口(kou)貨高級工程師家用吉時利(Keithley )數采設備,防止出現線路板模塊化(hua)統計(ji)(ji)資料采樣(yang)工藝造成 的干攏計(ji)(ji)算誤差
Keithley技(ji)術工藝:
100nV rms 躁音本底
整(zheng)流線電壓敏感度低至 10nV,最基本(ben)精確度為 0.002%(90天)
7ppm DCV 可重復使用性(xing),總體 1 年 DCV 精確性(xing)度:0.0028%
極限(xian)讀(du)(du)出車(che)速區域:2k 讀(du)(du)數/秒;
室內溫度判別率:0.001℃;
互動交(jiao)流(liu)額定電(dian)壓糞便率:0.1μV
電容判別率:1 μΩ
電壓甄別率:1nA
低(di)耗電量歐(ou)姆自動測量模式切(qie)換(huan)
弱瞬時電流(liu)控(kong)制電路公測作(zuo)用
偏置應對歐姆性能
檢定血壓(ya)低壓(ya)高(gao)構件又快又準確度
提升(sheng) 檢測精密(mi)度較的置信度
以低至 100μA 的源電流測量低阻抗,極(ji)大程度上減少設備自發熱
對其進行阻值在線測量(liang)時保持檢測的電壓,防止擊穿(chuan)電壓會已導致的所有陽極化合(he)物或膜
消失(shi)會在軟(ruan)件自(zi)然環境(jing)中來進行低電(dian)平電(dian)阻器量測時制造異常的熱效用(yong)
可以提供更的低熱敏電阻(zu)衡量(liang)
·帶天窗進口專業家用(yong)直流電(dian)壓(ya)大小(xiao)源(yuan)(ADCMT),非(fei)印刷電(dian)路板板集成化恒流源(yuan),不(bu)要始(shi)終無法深度貧困模擬輸(shu)出小(xiao)直流電(dian)壓(ya)大小(xiao)而所產生熱反應和測不(bu)好
·恒(heng)流(liu)源(yuan)性(xing)能:0.000-220mA;恒(heng)流(liu)設有辯別率:100nA;恒(heng)流(liu)安全(quan)性(xing):0.008+20nA/天
·溫度范圍:RT up to 1200℃
·控溫速率:0.01 –100K/min,可以節約用戶測試時間
·配值保持垂(chui)直放樣結(jie)構設(she)計,左右圖紙安裝(zhuang)支架(jia)夾(jia)持
·檢測空間(jian):賽貝克常(chang)數:0.5μV/K-25V/K;電(dian)阻值率:0.2μOhmm-2.5KOhmm
·0-80K溫(wen)度面積可無數個設定溫(wen)度值(zhi)及溫(wen)度點的數個
·U-I擬合曲線自主掃苗,算出為宜的電壓各值, 可(ke)以測(ce)量方(fang)法內阻(zu)率;也不會(hui)對大內阻(zu)試樣誕生隨機誤差
·白金和鉑(bo)金大(da)電級設汁(zhi),和原輔料可寬(kuan)裕接(jie)受,而對于不透亮(liang)原輔料也(ye)可贏(ying)得很好(hao)的(de)導電測試(shi)方法
·pt100邊距(ju)能(neng)(neng)能(neng)(neng)選擇(ze)打(da)樣(yang)定(ding)制大小調整后穩定(ding),具備不一樣(yang)科(ke)技創(chuang)新(xin)耍求定(ding)位(wei)精度:賽(sai)貝克指(zhi)(zhi)數(shu)公式:±7%;電導指(zhi)(zhi)數(shu)公式:±7%(熱電產品(pin)測試方(fang)法,非康(kang)銅標樣(yang));反(fan)復可重(zhong)復性:3%
·高(gao)階(jie)技術(shu)性(xing)應用子(zi)程序(xu)控(kong)溫(wen)技術(shu)性(xing),收錄溫(wen)度差和(he)側量伺(si)服電機等高(gao)階(jie)追求
·獨(du)立升/散熱、管控溫(wen)(wen)度程序(xu)流程圖,通過變多、恒溫(wen)(wen)器與(yu)散熱流程中的統(tong)計數據估測
·鉑熱功(gong)率電阻檢測器可選裝K、S、R型(需(xu)不需(xu)要鎧裝)分(fen)配(pei),不會輕易出(chu)現異(yi)常大的(de)交往功(gong)率電阻
·智能各種壓力防(fang)護保護區設定,出(chu)口英國航空級(ji)服務器硬(ying)件標準(zhun)配置,確保軟件測(ce)試工作中不容(rong)易有(you)爆(bao)破
·估測設(she)計:柱狀(zhuang)圖、顆粒狀(zhuang)、長方體(ti)、保(bao)護膜等設(she)計供選擇
方法規格型號
溫度因素的范圍 | RT up to 1200°C | |
控溫傳送速度 | 0.01 – 100k/min | |
控溫高精度 | +/-0.25K | |
衡量方式 | 賽(sai)貝克指數(shu):動態直流電電 | 功率(lv)電阻比率(lv):四端法 |
測量范圍內 | 賽貝克指數公式:0.5μV/K-25V/K | 電阻功(gong)率率:0.2μOhmm-2.5KOhmm |
辨別率 | 賽貝克公式:10nV/K | 電阻(zu)器率(lv):10nOhmm |
高精準度 | 賽貝克指數: ± 5 % | 電(dian)導指(zhi)數公式:± 7 % |
重覆性 | 3% | |
直流電 | 0 to 220 mA(人工控制正確≤0.005mA) 恒流(liu)配(pei)置分別率:100nA 恒流穩定義(yi)高性(xing):0.008+20nA/天 | |
大數據收集 | 100nV rms 低頻噪音本底(di) 交流電相電壓遲鈍度低至(zhi) 10nV,通(tong)常控制精度為 0.002%(90天) 7ppm DCV 可重新性(xing),關(guan)鍵 1 年 DCV 合理度:0.0028% 極大(da)導(dao)入極限速度的(de)范圍(wei):2k 讀數(shu)/秒 溫度表區分率:0.001℃; 交換直(zhi)流(liu)電壓鑒別(bie)率:0.1μV 阻值分辯率:1 μΩ 電壓電流識別率:1nA | |
熱場 | He、腐蝕、復原(yuan)、正空(多樣(yang)先(xian)選) | |
正空度 | 10E-3mbar | |
供試品尺寸大小 | 內徑或正四方形形:2 to 4 mm ;段長度:6 to 22mm |